GTEM小室錐形的設(shè)計方式是有依據(jù)的

　　GTEM小室構(gòu)成的輻射敏感度（抗擾度）測試系統(tǒng)*IEC61000-4-3（GB/T17626.3），為小型電子產(chǎn)品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據(jù)。GTEM小室構(gòu)成的輻射敏感度（抗擾度）測試系統(tǒng)測試系統(tǒng)構(gòu)成：主要由標(biāo)準(zhǔn)信號源、功率放大器、場強(qiáng)監(jiān)視器、計算機(jī)及操控軟件和GTEM室體組成。

　　GTEM小室近些年來在電磁兼容領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，其工作頻率范圍寬，內(nèi)部可用場區(qū)大，對EUT大小的限制與 頻率無關(guān)，既可以用于電磁輻射敏感度的測量，也可進(jìn)行電磁輻射干擾的測試，質(zhì)高價廉，易于使用，為電磁兼容的測試與評估提供了強(qiáng)有力的手段。

　　GTEM小室測試裝置可廣泛用于計算機(jī)、電子儀器設(shè)備、家用電器等電磁兼容性能的評價及按民用、J用標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的測量。由于可準(zhǔn)確計算GTEM小室內(nèi)部所產(chǎn)生的優(yōu)于±1dB精度的均勻電磁場強(qiáng)度，其還可用于寬帶場強(qiáng)儀及高頻、微波漏能儀的校準(zhǔn)與計量。此外還可使用GTEM裝置對移動通信設(shè)備，如無線尋呼機(jī)、對講機(jī)、手機(jī)等進(jìn)行靈敏度的調(diào)試與檢測。因此， 已有很多現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)將GTEM小室作為測試設(shè)備。

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