TEM小室的三種常規(guī)檢查方法分享

　　隨著電磁兼容檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展和提高，人們正針對(duì)不同的電子電器產(chǎn)品尋求更為簡(jiǎn)單便捷的檢測(cè)方法，尤其對(duì)于小型的電子產(chǎn)品，如：電動(dòng)玩具、集成電路(PCB板)、汽車電子零部件等。

　　TEM小室的測(cè)量主要是由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器組成，常規(guī)的檢測(cè)方法有屏蔽室法、開(kāi)闊場(chǎng)法、電波暗室法等：

　　1、屏蔽室：在EMC測(cè)試中，屏蔽室能提供環(huán)境電平低而恒定的電磁環(huán)境，它為測(cè)量精度的提高，測(cè)量的可靠性和重復(fù)性的改善帶來(lái)了較大的潛力。但是由于被測(cè)設(shè)備在屏蔽室中產(chǎn)生的干擾信號(hào)通過(guò)屏蔽室的六個(gè)面產(chǎn)生無(wú)規(guī)則的漫反射，特別是在輻射發(fā)射測(cè)量和輻射敏感度測(cè)量中表現(xiàn)更嚴(yán)重，導(dǎo)致在屏蔽室內(nèi)形成駐波而產(chǎn)生較大的測(cè)量誤差。

　　2、開(kāi)闊場(chǎng)：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求通常測(cè)試場(chǎng)地成橢圓形，長(zhǎng)軸是焦距的兩倍，短軸是焦距的倍，發(fā)射與接收天線分別置橢圓的兩個(gè)焦點(diǎn)上。兩個(gè)焦點(diǎn)的距離即是所要求的測(cè)量距離，根據(jù)現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)可分為3米、10米和30米。我國(guó)現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)大多數(shù)規(guī)定3米法測(cè)量，美國(guó)的FCC標(biāo)準(zhǔn)、英國(guó)的VDE標(biāo)準(zhǔn)要求10米法測(cè)量。開(kāi)闊場(chǎng)一般選擇遠(yuǎn)離市區(qū)、電磁環(huán)境較好的地方建造，但這給建造、試驗(yàn)、生活管理等帶來(lái)了諸多不便，并且維修維護(hù)成本較高。

　　3、電波暗室：通常所說(shuō)的電波暗室在結(jié)構(gòu)上大都由屏蔽室和吸波材料兩部分組成。在工程應(yīng)用中又分全電波暗室(fullyanechoicchamber)(六面裝有吸波材料)和半電波暗室(semianechoicchamber)(地面為金屬反射面)。全電波暗室可充當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)天線的校準(zhǔn)場(chǎng)地，半電波暗室可作為EMC試驗(yàn)場(chǎng)地。電波暗室的主要性能指標(biāo)有“靜區(qū)”、“工作頻率范圍”等六個(gè)(靜區(qū)是指射頻吸波室內(nèi)受反射干擾弱的區(qū)域)。

　　希望上述內(nèi)容能夠幫助大家更好的了解本產(chǎn)品。