論如何利用GTEM小室校準電場探頭的準確度

　　GTEM小室是根據IEC61000-4-3標準要求基于GTEM技術開發的射頻抗擾度預測試系統，全系統性能可靠，操作便捷，測試效果堪與暗室比擬，目前已廣泛應用于電力、通信、質檢等領域，為評定小型電子設備對輻射電磁場干擾敏感性建立有力的測試依據。

　　GTEM小室，解決了目前GIS特高頻局放檢測裝置無法標定的世界性難題，并已迅速應用于廣東電網局放檢測裝置的入網檢測工作，確保了設備入網質量和GIS局放測試的有效性，為保證GIS安全穩定運行奠定了堅實的基礎。

　　電波暗室常使用的頻段是9kHz-40GHz，一般探頭也在這一頻段工作，在校準過程中通常采用IEEE-1309標準中規定的方法進行校準，其原理是通過功率探頭、信號發生器、GTEM小室和在微波暗室內使用的標準增益天線等溯源至計量基準的儀器，依據天線增益與距離等參數，計算并產生標準電場強度，使用電場探頭在標準電場強度中測得的示值讀數與標準電場強度值進行比較得出校準因子。

　　標準電場強度生成的方式，主要分為以下兩種：

　　1、在1GHz以下頻段，通常采用標準電場強度傳遞法進行，也就是在TEM與GTEM小室中，通過設定相應標準電場強度，依據GTEM小室電場強度計算公式反向計算應饋入GTEM小室的功率，并采用迭代法調節信號源輸出信號幅度使饋入功率監測探頭讀數逐步逼近計算值，待其讀數穩定后，得到傳遞探頭在標準電場強度下的讀數并記錄在數據庫中，之后將傳遞探頭放置于GTEM小室中規定位置，再次采用迭代法調節信號源輸出信號幅度使傳遞探頭在GTEM小室中的電場強度讀數逼近于其在TEM與uTEM中的電場強度讀數，記錄此時饋入功率監測探頭的讀數。

　　2、在1GHz以上頻段，使用在微波暗室內的標準增益天線計算并產生標準電場強度的方法。首先設定一標準電場強度值，而后依據天線增益和其口面中心與探頭中心所形成的軸線距離等參數，反向計算天線在探頭位置處生成標準電場強度所需要的饋入功率，并采用迭代法調節信號源輸出信號幅度使饋入功率監測探頭讀數逐步逼近計算值，待其讀數穩定后，則在探頭位置處生成的電場強度即為標準電場強度。